步驟1：運(yùn)行多物理仿真獲得初始結(jié)果
使用 Charge 仿真得到調(diào)制區(qū)在不同偏壓 (-0.4V~4V) 的載流子分布，并導(dǎo)出 monitor_charge 的結(jié)果。
使用 MODE 計(jì)算在上述載流子的分布下，整個(gè)波導(dǎo)的損耗、群折射率以及等效折射率等。
步驟2：創(chuàng)建系統(tǒng)響應(yīng)的元模型
optiSLang優(yōu)化文件由三個(gè)主要模塊組成，參數(shù)敏感性分析、元模型模塊和優(yōu)化算法模塊。
首先，參數(shù)敏感性分析與品質(zhì)因數(shù)相關(guān)聯(lián)，在本例中是通過提供CHARGE、MODE和HFSS 文件的仿真腳本和仿真數(shù)據(jù)的來完成，將仿真數(shù)據(jù)導(dǎo)入到optiSLang并識(shí)別輸入和響應(yīng)即可建立初始的元模型，用于對(duì)結(jié)果優(yōu)化和可視化。
其次，將參數(shù)敏感性分析應(yīng)用于系統(tǒng)以建立系統(tǒng)的元模型，元模型優(yōu)化主要關(guān)注三個(gè)品質(zhì)因數(shù)（FOM）：極小化速度失配、極小化損耗和增大與電壓相關(guān)的相移(極小化Vpi/Lpi)。這些在Criteria選項(xiàng)中指定：
變參僅僅針對(duì)調(diào)制器摻雜濃度和摻雜位置(n,p)，以及電極形狀等 6 個(gè)參數(shù)：
找到適當(dāng)數(shù)量的樣本很重要，器件級(jí)仿真運(yùn)行的次數(shù)與“Adaption”選項(xiàng)中指定的相同，增加仿真次數(shù)提升優(yōu)化后模型性能，但同時(shí)也增加完成優(yōu)化所需的時(shí)間，可以通過勾選“show advanced setting”來設(shè)置采樣選項(xiàng)，本例中選擇了“Advanced Latin Hypercube Sampling”，包含60個(gè)初始樣本，在局部CoP(預(yù)測(cè)系數(shù))和優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)的重要性之間采用70：30比例。此外，還設(shè)置了每次迭代12個(gè)樣本，至少6次迭代來生成元模型。運(yùn)行后，每個(gè)獨(dú)立設(shè)計(jì)的結(jié)果將記錄在“Result designs”中，元模型就生成了。
后處理結(jié)果的模型質(zhì)量記錄在CoP矩陣，基于統(tǒng)計(jì)的思想通過一個(gè)預(yù)測(cè)質(zhì)量的關(guān)鍵指標(biāo)預(yù)測(cè)系數(shù)（CoP - Coefficient of Prognosis）來評(píng)估對(duì)實(shí)際模型的預(yù)測(cè)質(zhì)量。CoP的值越大表明預(yù)測(cè)得到的模型準(zhǔn)確性更高。通常在二維或三維圖像基礎(chǔ)上，輔以各點(diǎn)的不同顏色配合色塊來說明各個(gè)參數(shù)對(duì)模型目標(biāo)函數(shù)的函數(shù)值的影響。每個(gè)輸入?yún)?shù)的總有效性用紅色表示，單擊這些值中的每一個(gè)也會(huì)更新3D曲面圖，代表輸出對(duì)指定輸入的依賴性。下圖是Vpi_Lpi作為n和p摻雜值的函數(shù)的例子：
從上述步驟，我們通過參數(shù)敏感性分析了解到我們創(chuàng)建的元模型可以準(zhǔn)確預(yù)測(cè)在優(yōu)化過程中的系統(tǒng)表現(xiàn)，因此可以繼續(xù)進(jìn)行后續(xù)大量的變參優(yōu)化步驟，以確定上佳設(shè)計(jì)。
步驟3：優(yōu)化和獲得上佳設(shè)計(jì)
通過參數(shù)敏感性分析了解設(shè)計(jì)參數(shù)和設(shè)計(jì)目標(biāo)的設(shè)計(jì)行為，并使用結(jié)果支持我們的優(yōu)化算法。這是一個(gè)多目標(biāo)優(yōu)化，自動(dòng)運(yùn)行數(shù)千種敏感性和優(yōu)化設(shè)計(jì)，可以得到一組上佳設(shè)計(jì)，稱為帕累托前展面（Pareto Frontier）。所有設(shè)計(jì)條件的品質(zhì)因數(shù)都顯示在帕累托圖中，可以左鍵單擊并拖動(dòng)以放大代表上佳設(shè)計(jì)的帕累托前展面。
在本例中，我們關(guān)注獲得上佳相移、損耗和速度失配輸出，在后處理頁(yè)面的視圖部分拖動(dòng)“3D Cloud Plot”，可以獲得三個(gè)品質(zhì)因數(shù)所有設(shè)計(jì)的概覽。上佳設(shè)計(jì)是所有位于plot邊緣的點(diǎn)（即上述帕累托前展面）。為了能夠更好地觀察這些設(shè)計(jì)，點(diǎn)擊“Select best design(s)”，點(diǎn)擊“Invert selection”，然后在圖上右鍵單擊并選擇“deactivate”：
如前所述，會(huì)有幾個(gè)設(shè)計(jì)都提示是上佳設(shè)計(jì)，因?yàn)樵贔OM之間必然會(huì)有妥協(xié)。根據(jù)模型需求或優(yōu)化優(yōu)先級(jí)的不同，后面的選擇可能不同。點(diǎn)擊任意一點(diǎn)都會(huì)更新對(duì)應(yīng)輸入值和結(jié)果繪圖，在這里我們可以看到對(duì)應(yīng)摻雜濃度、偏移量和電極參數(shù)確定值，以及所選上佳設(shè)計(jì)的對(duì)應(yīng)結(jié)果。
此外，本例中還能進(jìn)一步在參數(shù)求解系統(tǒng)中引入INTERCONNECT用以獲得誤碼率（BER），獲得的參數(shù)可以進(jìn)一步更新模型并將監(jiān)測(cè)與初始設(shè)計(jì)相比誤碼率的降低情況。
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